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在这项工作中,我们提出了一种使用傅立叶变换红外光谱法(FTIR)来确定薄超级传导膜的中红外折射率。尤其是,我们在波长范围为2.5至25 µm的波长范围内对10 nm厚的NBN和15 nm厚的MOSI膜进行了FTIR传播和反射测量,对应于12-120 THz或光子的频率50-500 MEV。To extract the mid-infrared refractive indices of the thin films from FTIR measure- ments, we used the Drude-Lorentz oscillator model to represent the dielectric functions of the films and implemented an optimization algorithm to fit these oscillator parameters, minimizing the error between the measured FTIR spectra and the simulated spectra calculated using the dielectric func- tions of the films.为了评估提取的介电函数的一致性,我们比较了从紫外线中这些介电功能到近红外波长的折射率值与使用光谱椭圆法分别测量的值。为了进一步验证,我们从其提取的Drude振荡器参数中计算出膜的薄片电阻,并与实验值进行了比较。可以扩展这种基于FTIR的折射率测量方法,以测量超过25 µm的波长的薄膜的折射率,这对于设计高效的光子探测器和光子设备非常有用,在中型和远足波长中具有增强的光学吸收。

arxiv:2503.00169v1 [physics.optics] 2025年2月28日

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